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无阴影影响水体光学垂直剖面测量装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN201320564843.5, 申请日期: 2014-02-12, 公开日期: 2014-02-12
Inventors:  陈永华;  姜静波;  张亭禄
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一种无阴影影响水体光学垂直剖面测量装置  其特征在于:包括浮力块(2)、辐照度传感器(3)、支撑架体、重力平衡调节锤(10)及辐亮度传感器(11)  所述重力平衡调节锤(10)可相对移动地安装在支撑架体下部  其中浮力块(2)安装在支撑架体顶部  辐照度传感器(3)及辐亮度传感器(11)通过该重力平衡调节锤(10)在支撑架体上的移动  所述辐照度传感器(3)及辐亮度传感器(11)分别安装在支撑架体的两侧  在水中始终处于竖直方向。  
一种便携式水体垂直剖面光学测量系统及其使用方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN201310412848.0, 申请日期: 2013-12-25, 公开日期: 2013-12-25
Inventors:  陈永华;  姜静波;  张亭禄
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一种便携式水体垂直剖面光学测量系统  其特征在于:包括浮力块(2)、辐照度传感器(3)、支撑架体、重力平衡调节锤(10)及辐亮度传感器(11)  所述重力平衡调节锤(10)可相对移动地安装在支撑架体下部  其中浮力块(2)安装在支撑架体顶部  辐照度传感器(3)及辐亮度传感器(11)通过该重力平衡调节锤(10)在支撑架体上的移动  所述辐照度传感器(3)及辐亮度传感器(11)分别安装在支撑架体的两侧  在水中始终处于竖直方向。