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一种集成电路性能测量及电路实验装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN02280449.8, 申请日期: 2003-10-01, 公开日期: 2003-10-01
发明人:  龚德俊;  朱素兰;  李思忍;  徐永平;  于新生
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1.一种集成电路性能测量及电路实验装置  其特征在于包括：基板(1)  至少1块用于接插集成块和电子元件的母板(3)  其上设有多个固定孔(6)  其上设有印刷线路即导体(4)  至少2个用于固定母板(3)的固定块(2)  上表面均设至少2个固定导槽  插装在所述固定导槽里、并同时将母板(3)安装在基板(1)上、于固定导槽之间  至少1个固定条(7)  通过固定孔(6)安装在基板(1)上  用于固定整体结构。