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集成电路性能测量及电路实验装置 专利
专利类型: 发明, 专利号: ZL02133160.X, 申请日期: 2006-07-12, 公开日期: 2011-07-15
发明人:  龚德俊;  朱素兰;  李思忍;  徐永平;  于新生;  秦枫
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